捕捉不可見的細節！OM SYSTEM 正式推出數位紅外線系統 OM-1 Mark II IR

輕量化機身釋放行動力

過去，專業級的紅外線攝影往往需要仰賴改裝機身或昂貴的專用紅外線顯像儀，且體積龐大不便移動。OMDS 的 IR 系統有著 OM SYSTEM 最引以為傲的輕量化設計，例如最新推出的 OM-1 Mark II IR 機身含電池的重量僅約 599 公克，搭配 PRO 系列鏡頭後依然保持極高的手持機動性。對於需要在狹窄空間如古蹟室內、寺廟樑柱下進行攝影的文教人員來說，這無疑大幅減輕了體力負擔，也提升了拍攝作業的靈活性。

高畫素位移拍攝呈現極致細節

針對學術研究與精密工業的需求，影像的細膩度是判讀真偽與缺陷的關鍵。OM-1 Mark II IR 雖然同一般版本的 OM-1 Mark II 一樣搭載 2,000 萬畫素的 4/3 片幅 LiveMOS，但也同樣具備「高解析度拍攝」功能，利用感光元件位移技術，在三腳架模式下可產出高達 8,000 萬畫素的赤外線影像。無論是木簡上的淡化墨跡，或是壁畫下層的素描筆觸，都能在極高像素的輔助下無所遁形。此外，機身內建的強大防手震技術，即便在光線微弱的環境下使用手持「高解析度拍攝」，也能產出約 5,000 萬畫素的高畫質照片，滿足多樣化的作業場景。

磁吸式濾鏡設計方便快速切換

為了讓使用者能精準對比同一個構圖下的差異，OMDS 巧思設計了磁吸式濾鏡接環。使用者可以根據需求，在一般可見光攝影與特定波長的近紅外線（NIR）攝影之間快速切換。這種設計避免了傳統旋入式濾鏡在更換時可能導致的相機位移，確保對比照片能完美重疊。同時，搭配官方提供的「OM Capture」與「OM Workspace」軟體，研究員能直接透過電腦連線控端，即時預覽並進行影像編修與 RAW 檔開發，優化工作流。

從食安檢測到刑事鑑定用途廣泛

OM-1 Mark II IR 的應用範圍極為廣泛。在工業生產線上，它能穿透矽晶圓或塑料外殼，進行內部缺陷檢測；在食品產業中，則可用於偵測包裝內的異物或成分分類。而在文化資產保護領域，它已成功協助國寶級建築的壁畫判讀與古文書修復，讓因年代久遠而黑化的文字重新顯現。此外，對於需要高度精準度的真偽鑑定與刑事調查，赤外線攝影亦是不可或缺的科技採證手段。

彈性化導入方案

相較於市場上動輒數十萬甚至百萬元的專用紅外線顯像設備，OMDS 以現有的微單眼架構進行專業調教，提供更具競爭力的價格。目前市面上相關組合如 OM-1 Mark II IR 搭配 12-45mm F4.0 PRO 鏡頭組合，雖然官方並未在網頁上公開具體報價（採專案洽詢制），但若參考同級市售專業改裝機具，整套導入預估約在新台幣 10 萬元至 20 萬元不等（視選購鏡頭與技術支援服務而定）。對於預算有限的研究單位或中小型企業而言，這不僅是技術的升級，更是成本控制上的優選方案。

via：OM SYSTEM